WLP - 208平均粒度測(cè)定儀:該儀器是在WLP - 205儀器基礎(chǔ)上增加了一套壓力校正器。在測(cè)試中采用該校正器可使粉料很容易的壓緊到規(guī)定的壓力上(國際通用50磅力·時(shí)即22.7kgf·cm),從而使測(cè)試更加簡(jiǎn)便、性能穩(wěn)定、重復(fù)性好，其他主要技術(shù)指標(biāo)與WLP - 205型平均粒度測(cè)定儀相同。

主要技術(shù)指標(biāo)

1、粒度測(cè)量范圍:0.2um(微米)—50um(微米)

2、孔隙度范圍:0.25-0.40、0.40-0.80、0.80-0.953、精度:3%

4、工作環(huán)境:相對(duì)濕度不大于80%，溫度:25±10C5、電源:一220±22v 50-60Hz

6、功率:30w

7、重量:28Kg

8、外型尺寸:735×414×244mm3